应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
5 层(4 镀层+ 基材) / 24 元素/ 共存元素校正;
组成成分分析时可同时测定24 种元素;
元素光谱定性分析;
基材分析
X-ray 接收器:数字半导体接收器
测量精度:3%或±5%μm 依照参考标准片
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菲希尔 Fischer :XDLM-B、XDL-B、XMDVM-T7.1W、XMDVM-T7.1P XUL XULM XDLM231 XDL210 XDL230 XDV-u等等
日本精工 Sii:SFT9100、SFT9200 SFT9255、SFT9300、SFT9400;SFT110 等等
牛津 CMI:CMI980 CMI900、CMI920 等等
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